IEC 60747-1-1983 半导体器件分立器件第1部分:总则
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时间:2024-05-05 16:59:36
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【英文标准名称】:Semiconductordevices.Discretedevices.Part1:General
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第1部分:总则
【标准号】:IEC60747-1-1983
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1983
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;额定值;电子工程;半导体;寿命;测量;标志;可靠度;色码;符号;极限(数学);布置;标记;定义;检验;集成电路;作标记;半导体器件;电子学;电气工程;规范(批准)
【英文主题词】:
【摘要】:Describespurpose,presentationandrequirementsonthecontentsofIECPublications747-2,747-3etc.,dealswithterminology,lettersymbols,essentialratingsandcharacteristics,generalandreferencemeasuringmethods,acceptanceandreliabilityof
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:113P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件分立器件第1部分:总则
【标准号】:IEC60747-1-1983
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1983
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;额定值;电子工程;半导体;寿命;测量;标志;可靠度;色码;符号;极限(数学);布置;标记;定义;检验;集成电路;作标记;半导体器件;电子学;电气工程;规范(批准)
【英文主题词】:
【摘要】:Describespurpose,presentationandrequirementsonthecontentsofIECPublications747-2,747-3etc.,dealswithterminology,lettersymbols,essentialratingsandcharacteristics,generalandreferencemeasuringmethods,acceptanceandreliabilityof
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:113P;A4
【正文语种】:英语
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